Speaker
橋本 大輔
(名古屋大学)
Description
2029年開始の高輝度LHC-ATLAS実験では、ミューオン検出器（TGC）のエレクトロニクスを刷新する。前段回路系は衝突点に近い検出器ホールに実装されるため、回路素子には高放射線環境下で10年間安定して動作する放射線耐性が求められる。本研究では、SFP+の非イオン化損傷、イオン化損傷の検証を実施した。非イオン化損傷についてはTGC の要求値 1.3 × 10^12 neutrons/cm^2 に対して約3-10倍、イオン化損傷については要求値 33 Gy に対してO(100) Gy の照射を行った。本講演では、SFP+の照射試験の結果およびこれまで行った放射線耐性試験のまとめについて報告する。
