-
09:30
Introducción
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Olof Tengblad
(IEM - CSIC)
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09:45
Interacción en materia y propiedades básicas de los detectores
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Enrique Nácher
(Univ. of Valencia and CSIC (ES))
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10:45
High resolution techniques (1)
-
Caterina Michelagnoli
(Institut Laue-Langevin)
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12:15
Detectores de semiconductor
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Enrique Nácher
(IFIC Valencia)
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13:15
Metodos de Estadistica de análisis
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Jose Luis TAIN
(IFIC - Valencia)